測IV(IV Curve Tracer)自動曲線追蹤儀(Auto Curve Tracer)提供DC組件及導體組件特性量測、電性故障分析量測(EFA, Electrical Failure Analysis)及曲線繪圖(IV-CURVE)，其特點是可一次量測樣品各腳位的阻値差異，腳數(shù)相當多達相當多1024 pins 。提供迅速簡便的I/V Measure 和O/S 測試功能,為FA 電性測試分析的步驟。 Pin Assignment File 設計,內(nèi)含Pin Index/Tester Channel No./Ball No/Finger No/Pin Function/Pin Attribution對應表，便利共享測試治具的使用，O/S步驟驗證,Leakage等測試群組的設定,符合各單位的需求。完整的O/S測試方法,提供AutoSet與UserDefine兩種建立測試步驟的方法：提供Force I/Measure V 與Force V/Measure I兩種量測的方法。提供All-to-Pin, Pin-to-All, Pin-to-Pin, All-to-Pins, Pins-to-All, Pins-to-Pins六種開關設定。彈性的Powered Leakage測試條件設定,內(nèi)含Power/Precondition/Pins Groups三組表格,讓全部的Leakage待測Pins可自動進行量測。每個Test Project可整合O/S, Power Leakage, Curve Tracer三項參數(shù),在量產(chǎn)測試的模式可配合Handler接口自動進行測試,可外接Keithley 2400 SourceMeter (0.012%basic accuracy with 5-1/2 digital resolution)以應付高精細的需求。機臺能力：相當多1024 Channels、相當高電壓7 V、電流限制2.5 μA~ 500 mA。關于宜特：iST始創(chuàng)于1994年的臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、材料分析、失效分析、無線認證等技術服務。2002年進駐上海，全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務據(jù)點，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。