Keithley 參數(shù)分析儀操作簡易量測快速的 KEITHLEY 4200-SCS 半導體特性系統(tǒng)提供實驗室級的DC組件及導體組件特性量測、電性故障分析量測(EFA, Electrical Failure Analysis)、實時曲線繪圖(IV-CURVE) 、高精確性及Sub-fA 高分辨率的量測分析。KEITHLEY 4200 將大部分的功能都整合在一個系統(tǒng)里，包含了PC，Windows NT Operation System，Hard disk超大的數(shù)據(jù)儲存空間。KEITHLEY 4200 的隨點即用的Windows接口加快及簡化了讀取資料步驟，所以使用者可以很快分析結(jié)果，內(nèi)建的強大測試工具可以讓測試方法標準化以確保相同的測試結(jié)果。應用：DC組件及導體組件特性量測電性故障分析量測(EFA, Electrical Failure Analysis) 輔助后續(xù)電性測試(Force V measure I / Force I measure V)機臺限制:具多4 Channels、特高電壓100 V、特大限流100 mA，功率為2 W。簡易：隨點即用的Windows操作環(huán)境.操作簡單.存盤方便(可直接儲存圖文件及data數(shù)據(jù)文件)。高解析：有特殊的訊號放大器可使SMU分辨率達至0.1fA�？焖伲菏褂肞C操作系統(tǒng)提供快速的測試設(shè)定，強大的數(shù)據(jù)分析及繪圖，打印功能及龐大的硬盤儲存空間。多功能：特殊的瀏覽式項目導覽器將測試依組件分類，并允許多項測試及提供測試流程及循環(huán)控制。擴充性佳：自訂測試模塊功能可以延伸KITE控制其它外部儀器及整合測試項目。關(guān)于宜特：iST始創(chuàng)于1994年的臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、材料分析、失效分析、無線認證等技術(shù)服務(wù)。2002年進駐上海，全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務(wù)據(jù)點，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。