器件震動測試(Vibration)

零組件震動試驗(Component Vibration Test)
當(dāng)系統(tǒng)/模塊遭受到振動環(huán)境時，在電路板上之零組件往往因為固定方式或結(jié)構(gòu)設(shè)計之自然頻率因素將進入之震動能量作數(shù)倍放大，而且對于小質(zhì)量零組件而言其體積越小則自然頻率越高，因此，對于質(zhì)量輕且小的IC零組件進行震動試驗時，通常以高頻振動為主要測試條件，對于被動零組件在規(guī)范應(yīng)用上則以MIL-TSD-202G為主要規(guī)范，對于集成電路則以MIL-STD-883F為主。

被動零組件使用之試驗條件

• MIL-STD-202G Method 204D Condition B(正弦振動)
  振動頻率：10 – 2KHz，0.06inch amplitude ａnd 15g acceleration
  振動軸向：X、Y、Z三軸
  振動循環(huán)數(shù)：每軸震動12循環(huán)

• MIL-STD-202G Method 204D Condition B(隨機振動)
  振動頻寬：50-100-1000-2000Hz，+6/-12dB with 7.56grms
  振動軸向與時間：X、Y、Z三軸，每軸震動3min, 15min, 1.5hour or 8h

• 集成電路使用之試驗條件

• MIL-STD-883F Method 2005.2 Condition A(正弦疲勞震動)
  

振動頻率：10 – 2KHz，0.06inch amplitude ａnd 20g acceleration
振動軸向與循環(huán)數(shù)：X、Y、Z三軸，每軸震動32小時

• MIL-STD-883F Method 2007.3 Condition A(正弦震動)
  振動頻率：10 – 2KHz，0.06inch amplitude ａnd 20g acceleration
  振動軸向：X、Y、Z三軸
  振動循環(huán)數(shù)：每循環(huán)不得小于4分鐘，每軸震動4循環(huán)

對于使用于汽車(Automotive)上之零組件耐振動試驗?zāi)芰σ笙鄬τ谙M性產(chǎn)品則高許多，目前汽車用電路類零件大都根據(jù)Automotive Electronics Council-(簡稱AEC)作為驗證標準。

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關(guān)于宜特：

iST始創(chuàng)于1994年的臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、材料分析、失效分析、無線認證等技術(shù)服務(wù)。2002年進駐上海，全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務(wù)據(jù)點，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。