ESD靜電測(cè)試(ESD &Latch-up)

長(zhǎng)期以來(lái)，終端產(chǎn)品市場(chǎng)因EOS而客退情形不曾間斷，對(duì)終端產(chǎn)品的廠商而言除了在產(chǎn)品耐ESD設(shè)計(jì)/產(chǎn)線ESD防護(hù)以及成品ESD驗(yàn)證外，對(duì)于產(chǎn)品所選用的IC其承受ESD的能力必須更加關(guān)注，因?yàn)槿鬒C承受靜電能力弱，產(chǎn)品就不可能有良好的靜電承受能力。  

過(guò)去IC ESD試驗(yàn)大都以試驗(yàn)到其所訂定的ESD防護(hù)等級(jí)(例如2KV)便停止試驗(yàn)。近一年來(lái)，越來(lái)越多成品廠商要求其IC供貨商必須提出Testing to Fail的驗(yàn)證與失效模式報(bào)告。經(jīng)由此種過(guò)程對(duì)IC設(shè)計(jì)者來(lái)說(shuō)可以了解到IC脆弱點(diǎn)且可作為ESD電路設(shè)計(jì)上的參考。對(duì)成品廠商而言可了解其所選用的IC所能承受的靜電能力以及脆弱點(diǎn)以作為系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)參考，亦可在RMA失效分析時(shí)做為比對(duì)依據(jù)。

宜特靜電測(cè)試實(shí)驗(yàn)室提供了人體放電模式(Human Body Mode)、機(jī)器放電模式(Machine Mode)、組件充/放電模式(Charge Device Mode)及閂鎖效應(yīng)(Latch-up)等測(cè)試，同時(shí)也提供ESD的I-V Curve量測(cè)以及ESD失效分析。試驗(yàn)則涵蓋了MIL-STD(美國(guó)軍規(guī)標(biāo)準(zhǔn))和 EIA/JEDEC(日本靜電防護(hù)規(guī)章)，AEC(汽車(chē)電子協(xié)會(huì))等測(cè)試服務(wù)。

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關(guān)于宜特：

iST始創(chuàng)于1994年的臺(tái)灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、材料分析、失效分析、無(wú)線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海。全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室12個(gè)服務(wù)據(jù)點(diǎn)。目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室。