掃描電子顯微鏡JASM-6200設(shè)計(jì)原理
掃描電子顯微鏡JASM-6200(ASEM)是和在其上方設(shè)置的光學(xué)顯微鏡共同構(gòu)成。ASEM在倒立的SEM上方配置了一層薄膜，在透過(guò)電子束的同時(shí)又阻止了大氣通過(guò)，這樣就可以把大氣中的樣品與SEM內(nèi)部的真空隔離開(kāi)來(lái)。樣品放置在薄膜的上面，從其下方照射出電子束，由此可以在大氣下對(duì)樣品進(jìn)行高倍觀察。另外通過(guò)上方的光學(xué)顯微鏡還可以進(jìn)行相同視野的觀察。使用薄膜構(gòu)成的ASEM皿(薄膜皿),可以在細(xì)胞室內(nèi)進(jìn)行細(xì)胞的培養(yǎng)。
掃描電子顯微鏡（SEM)與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡相比，具有焦距更深，分辨率更好的特點(diǎn)。相反，得不到象光學(xué)顯微鏡那樣獲得的純自然光澤。我們利用掃描電子顯微鏡的主要特點(diǎn)，可以廣泛應(yīng)用于科研和生產(chǎn)。