產(chǎn)品展示
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
JEOL可移動式掃描電子顯微鏡
- 產(chǎn)品編號: BHRB-SM007
- 產(chǎn)品型號: JCM-5700
- 所屬類別: 掃描電子顯微鏡 - 日本電子掃描電鏡
- 所屬品牌: 日本電子
- 所屬用途: 固體表面測量
- 應(yīng)用領(lǐng)域: 不限
- 產(chǎn)品特性:
- JEOL可移動式掃描電子顯微鏡JCM-5700是一臺在任何地方都可以使用
JEOL可移動式掃描電子顯微鏡JCM-5700產(chǎn)品詳細(xì)介紹
JEOL可移動式掃描電子顯微鏡JCM-5700是一臺生產(chǎn)現(xiàn)場-研究室用SEM，在任何地方都可以使用的高性能可移動式SEM �！�
運行成本低(長時間不用維護)，檢查項目-研究題目等各項條件均可記憶，任何人都可以得到良好結(jié)果的高度再現(xiàn)性�？梢栽O(shè)定獨立的操作條件，使用更加自由的MY SEM。
輕松獲得幾萬倍的圖像，簡單友好的操作界面，儀器啟動僅需3分鐘。與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡的比較，掃描電子顯微鏡（SEM)與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡相比，具有焦距更深，分辨率更好的特點。相反，得不到象光學(xué)顯微鏡那樣獲得的純自然光澤。我們利用掃描電子顯微鏡的主要特點，可以廣泛應(yīng)用于科研和生產(chǎn)。
掃描電子顯微鏡的與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡的比較
光學(xué)顯微鏡＜樣品: 印刷基板＞ 掃描電子顯微鏡 JCM-5700
鮮明的SEM圖像上進行高精度測量
從極低倍到高倍，在圖像上就可以直接進行長度和角度測量，即在鮮明的圖像上進行高精度測量。保存后的圖像也可以用SMile View軟件（選購件）打開并進行測量。
3D觀察-測量（選購）
利用掃描電子顯微鏡焦深大的特點，可以進行立體的高度測量。同一個視野，傾斜角度改變10°左右，獲得兩張圖像，進行高度測量。
不僅可以觀察圖像，還可以進行成分分析
不僅可以利用二次電子信息進行樣品表面觀察，還可以利用背散射電子成份襯度像進行異物及多層膜觀察。另外，還可以使用能量分散型光譜儀（EDS）進行元素分析。日本電子產(chǎn)能譜儀JED-2300可以與主機實現(xiàn)一體化，將點鏡擴展為分析型點鏡。
