產(chǎn)品展示
甘肅蘭州LW300MT硅芯片檢查顯微鏡
點擊次數(shù)：146發(fā)布時間：2010/12/21 16:30:08
更新日期：2012/1/16 15:30:11
所 在 地：
產(chǎn)品型號：LW300MT
相關(guān)標簽：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細內(nèi)容
本儀器廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。觀察目標：大于3 微米小于20微米，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。
二、技術(shù)指標
- 鏡筒：B雙目，傾斜30°（本儀器主機含三目攝像接筒裝置）
- 大視野目鏡：WF10Xф18mm
- 長工作距離平場物鏡：PL5X，PL10X，PLL20X，PLL40X（S），PLL80X（S）
- 轉(zhuǎn)換器：五孔
- 總放大倍數(shù)：50X~800X
- 載物臺：三層機械移動，尺寸280×270mm，移動范圍204mm×204mm
- 調(diào)焦：粗微動同軸，升降范圍25mm，微動格值0.0007mm，帶鎖緊和限位裝置
- 光源：反射柯勒照明，透反射照明鹵素?zé)?V20W，亮度可調(diào)，反射照明帶起偏振片
正交偏光裝置
