產(chǎn)品展示
陜西延安LW200-4JGT正置金相顯微鏡
點(diǎn)擊次數(shù)：170發(fā)布時間：2010/12/21 16:21:49
更新日期：2012/1/16 15:30:11
所 在 地：
產(chǎn)品型號：LW200-4JGT
相關(guān)標(biāo)簽：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
本儀器除了對20~30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，更廣泛的應(yīng)用于透明、半透明或不透明物質(zhì)。如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCO基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體，鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)，痕跡，都有很好的成像效果。
二、技術(shù)指標(biāo)
- 鏡筒：T三目，30度傾斜，360度旋轉(zhuǎn)，輔助倍數(shù)1.25X
- 高眼點(diǎn)目鏡：PLAN10XΦ20mm
- 長工作距離平場物鏡：PL4X，PL10X，PLL20X，PLL 40X（S），PLL100X （干鏡）（S）
- 轉(zhuǎn)換器：四孔
- 放大總倍數(shù)：40X-1000X
- 載物臺尺寸：160mmX140mm，移動范圍：70mmX50mm
- 聚焦鏡：可調(diào)式阿貝聚焦鏡NA1.25，孔徑光闌，濾色片座
- 調(diào)焦：粗微動同軸，升降范圍20mm，微動格值0.002mm ，帶鎖緊和限位裝置
- 光源：透反射柯勒照明，透射照明鹵素?zé)?2V20W，反射照明鹵素?zé)?2V50W，亮度可調(diào)
- 正交偏振裝置
