產(chǎn)品展示
上海北京LW200-4JB正置金相顯微鏡
點擊次數(shù)：133發(fā)布時間：2010/12/21 16:01:38
更新日期：2012/1/16 15:30:22
所 在 地：
產(chǎn)品型號：LW200-4JB
相關(guān)標(biāo)簽：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細內(nèi)容
本儀器除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習(xí)慣，因此更廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。大于3 微米小于20微米的觀察目標(biāo)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。
二、技術(shù)指標(biāo)
- 鏡筒：B雙目，30度傾斜，360度旋轉(zhuǎn)，輔助倍數(shù)1.25X
- 高眼點目鏡：PLAN10Xф20mm
- 長工作距離平場物鏡：PL4X，PL10X，PLL40X（S），PL100X（S）（oil）
- 轉(zhuǎn)換器：四孔
- 總放大倍數(shù)：50X-1250X
- 載物臺：尺寸160mmX140mm，移動范圍75mmX50mm
- 聚焦鏡：可調(diào)式阿貝聚焦鏡NA1.25，孔徑光闌，濾色片座
- 調(diào)焦：粗微動同軸，升降范圍20mm ，微動格值0.002mm，帶鎖緊和限位裝置
- 光源：透反射柯勒照明，透射照明鹵素?zé)?2V20W，反射照明鹵素?zé)?2V50W，亮度可調(diào)
- 正交偏光裝置
