產(chǎn)品展示
XS3DU微量天平
點(diǎn)擊次數(shù):66發(fā)布時(shí)間:2010/7/14 10:07:01

更新日期:2010/7/28 16:33:25
所 在 地:
產(chǎn)品型號(hào):
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
產(chǎn)品介紹 |
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的稱量性能,完全滿足基礎(chǔ)稱量應(yīng)用:在800 mg的精細(xì)量程范圍內(nèi)提供1 μg的可讀性。具有同類產(chǎn)品中*佳的重復(fù)性可低至0.8 μg,是獲得理想的稱量可靠性的關(guān)鍵,避免不必要的重復(fù)測(cè)試,顯著地降低了樣品和時(shí)間的浪費(fèi)。 梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設(shè)計(jì)。
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技術(shù)指標(biāo) |
1)根據(jù)OIML R76 2) 在10到30°C的溫度范圍內(nèi) 3)次安裝,使用proFACT校準(zhǔn),靈敏度穩(wěn)定性 4)能用于估計(jì)不確定度 sd=標(biāo)準(zhǔn)偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重(樣品質(zhì)量) a=年 * 重復(fù)性和*小稱量值可以通過以下措施得以改進(jìn):- 選擇適當(dāng)?shù)姆Q量參數(shù)設(shè)置,- 選擇合適的天平放置位置,- 使用較小的去皮容器。 |