產(chǎn)品展示
ZNTEKFX66導波雷達物位計ZNTEKFX65
點擊次數(shù)：971發(fā)布時間：2021/12/6 15:02:36
更新日期：2021/12/6 15:02:36
所 在 地：中國大陸
產(chǎn)品型號：ZNTEKFX64
優(yōu)質(zhì)供應
詳細內(nèi)容
ZNTEKFX66導波雷達物位計ZNTEKFX65ZNTEKFX66導波雷達物位計ZNTEKFX65ZNTEKFX66導波雷達物位計ZNTEKFX65
工作原理
雷達物位計/雷達液位計/雷達料位計/智能導波雷達物位計/智能型脈沖雷達物位計發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質(zhì)的距離成正比,容器中存在兩種不同介質(zhì)，當上面一層的介質(zhì)介電常數(shù)較小，而下面的介質(zhì)介電常數(shù)較大時，高頻微脈沖沿著探測組件傳播遇到上層介質(zhì)時，由于其介電常數(shù)較小，因而有極少的能量被這一層介面反射，而大部分能量穿透上層介質(zhì)繼續(xù)向下傳播，遇到兩層的介面時，由于下層介質(zhì)的介電常數(shù)較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達物位計是可以測量兩種不同介質(zhì)的介面，其測量條件是上層介質(zhì)不導電或其介電常數(shù)比下層介質(zhì)介電常數(shù)小10以上。
1.對于蒸汽不敏感
即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。
2.不受介質(zhì)特性變化的影響
被測介質(zhì)的密度變化或介電常數(shù)的變化不會影響測量精度。
3.粘附：沒有問題
在測量探頭或容器壁上粘附介質(zhì)不會影響測量結(jié)果。
4.容器內(nèi)安裝物
如果采用同軸套管式的ZNTEKFX，測量完全不受容器內(nèi)安裝物的影響，比如：加熱管或支撐物等。不需要特殊調(diào)試。
5.可以提供不同形式的ZNTEKFX用于不同應用：＇
●纜式一用于測量液體介質(zhì)或固體介質(zhì)，量程可達60米
●棒式一用于測量液體介質(zhì)或固體介質(zhì)，量程可達6米
●同軸套管一用于測量低黏度的液體介質(zhì)，不受過程條件的影響，量程可達6米
產(chǎn)品選型
ZNTEKFX64
特 征：帶散熱的導波雷達天線。
應 用：液體測量，高溫高壓工況，復雜過程條件。
***量程：纜：30M/棒：6M
測量精度：±10mm
過程連接：G1?A/G2A/1?NPT
探測組件材料：不銹鋼316L/陶瓷
纜／棒直徑：Φ4mm、Φ6mm/Φ10mm
過程溫度：-40…200℃
過程壓力：-1.0…40bar
信號輸出：兩線制 4…20mA/HART
ZNTEKFX65
特 征：不銹鋼316L/陶瓷材料天線,能耐受更高的溫度和壓力。
應 用：液體測量，高溫高壓工況，復雜過程條件。
***量程：纜：30M/棒：6M
測量精度：±10mm
過程連接：G1?A/G2A/1?NPT
探測組件材料：不銹鋼316L/陶瓷
鋼纜直徑：Φ4mm、Φ6mm/Φ10mm
過程溫度：-200…400℃
過程壓力：真空…400bar
信號輸出：兩線制4…20mA/HART
ZNTEKFX66
特 征：多纜式導波天線結(jié)構(gòu)，獲得更強的回波信號。
應 用：小介電常數(shù)液體及固體測量,復雜過程條件。
***量程：纜：30M/棒：6M
測量精度：±10mm
過程連接：G1?A/G2A/1?NPT
探測組件材料：不銹鋼316L /PTFE
鋼纜直徑：Φ4mm/Φ8mm
過程溫度：-40…150℃
過程壓力：-1.0…40bar
信號輸出：兩線制4…20mA/HART
