產(chǎn)品展示
電子散斑干涉（ESPI）實(shí)驗(yàn)裝置
點(diǎn)擊次數(shù)：1042發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：2009/7/14 8:24:22
所 在 地：天津市拓普儀器有限公司
產(chǎn)品型號(hào)：WSG-1型
相關(guān)標(biāo)簽：電子散斑干涉（ESPI）實(shí)驗(yàn)裝置 電子散斑干涉
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測(cè)定其離面位移的新型，的測(cè)試技術(shù)。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法。
儀器特點(diǎn)：自己調(diào)節(jié)光路，可提高動(dòng)手能力；
采用了*新處理光學(xué)信息的CCD測(cè)量技術(shù)
計(jì)算機(jī)處理圖象，軟件操作簡(jiǎn)便
可利用軟件畫出測(cè)試表面受力變形后的三維立體圖。
成套性：CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)節(jié)桿、光學(xué)零件、被測(cè)樣品。
