鋁制保護(hù)膜，包括氧化鋁、其他鋁鍍膜及含特性的保護(hù)膜等，生產(chǎn)時(shí)品質(zhì)必須受控，保證該薄膜面可符合各種規(guī)定的功能標(biāo)淮。在連續(xù)生產(chǎn)過程中，要測(cè)試樣品，可用抽檢方式或在線測(cè)量。跟據(jù)這鍍層車間的檢查數(shù)據(jù)的回歸，可以快速執(zhí)行相應(yīng)操施，例如重置機(jī)器操作設(shè)定，減少成本（包括品質(zhì)及材料消耗） 。但這量度程序只適用于透明層料，不適用于廣泛四散層面。

鋁帶或鋁片的鍍層是以反射光測(cè)量，白光干涉由反射信號(hào)產(chǎn)生。此光學(xué)鍍層厚度是應(yīng)用FFT 式運(yùn)算法則，結(jié)果非�？煽俊６@幾何光學(xué)層厚測(cè)量是決定于光學(xué)、幾何厚度及折射值功能 n=f （波長(zhǎng)）之間的關(guān)系。 數(shù)值結(jié)果有很高的重復(fù)性及絕對(duì)準(zhǔn)確。由于蔡司使用了極佳的光學(xué)配件及高熱量穩(wěn)定的二極管陣列式的多色儀。薄層厚度在 <500nm 間都可以測(cè)量，軟件可執(zhí)行校準(zhǔn)及自動(dòng)控制。這些方法亦可應(yīng)用于其他鍍層產(chǎn)品。

系統(tǒng)

蔡司提供兩種測(cè)量方法：一是帶光纖線的MCS600 系統(tǒng)；另一種是下帶光纖線的CORONA 系統(tǒng)。兩者都是二極管陣列式的多色儀、多通道式設(shè)計(jì)，波長(zhǎng)分辨率分別為0.8nm/pixel 及3.3nm/pixel，連接插頭有RS422、4-20mA、RS232 及RS485。激發(fā)輸入及輸出點(diǎn)皆可選用，系統(tǒng)以電腦操作，多臺(tái)光譜儀可疊層連接，以一臺(tái)電腦操作，因此可見及NIR 光譜可同時(shí)出現(xiàn)於顯示器上。

軟件

一個(gè)可選購(gòu)配置的軟件 ASPECT PLUS Windows 基本軟件 （支援 Windows 軟件） ，可配合鍍層厚度插入軟件使用。若有特別需要，我們可以為編寫其應(yīng)用軟件，以 LabVIEW 編寫。DLLs 的 C++ 和 LabVIEW 驅(qū)動(dòng)程式容許客戶編寫自已程式，與我們的測(cè)量系統(tǒng)完全配合。

優(yōu)點(diǎn)

• 快速及高精度量度

• 極高的鍍層厚度重復(fù)性

• 已確識(shí)及測(cè)試的測(cè)量技術(shù)

• 高可靠性及低維修要求，這由于沒有可移動(dòng)部件

• 容易使用軟件

• 快速提供詳細(xì)光譜資料

• 富彈性安裝，可使用光纖連接或無光纖技術(shù)及一系列配件

• 可分別量度幾個(gè)不同點(diǎn)，配光纖多路器或穿越器

• 可直接用穿越器與無光纖系統(tǒng)聯(lián)系

規(guī)格

• 波長(zhǎng)范圍 200–1020nm （900–1700nm 選配或?qū)盈B）

• 波長(zhǎng)清晰度 0.8nm/Diode （2.4 nm Raleigh） / 3.3nm/diode （10nm Raleigh）

• 波長(zhǎng)重復(fù)性 <0,05 nm

• PC 介面 CORONA 可選用RS 422; RS 232 res. RS 485

• PC 與系統(tǒng)距離 基本電線可延伸至 80 m, 使用光導(dǎo)傳送可延伸至 2.5km

• 光纖石英，600μm 蕊，SMA 連接

• 架 19" 箱或19" 架；19" 保護(hù)箱；Corona （無光纖）鐵箱