產(chǎn)品展示
SunScan 冠層分析系統(tǒng)
點(diǎn)擊次數(shù)：191發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：美國(guó)
產(chǎn)品型號(hào)：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
探測(cè)器工作區(qū)域：1000×13mm寬，傳感器間距15.6mm
探測(cè)器光譜響應(yīng)：400 - 700nm (PAR)；
測(cè)量范圍：0-2500μmol.m-2.s-1
分辨率：0.3μmol. m-2.s-1。
探測(cè)器測(cè)量時(shí)間：120ms；
操作溫度：0 - 60℃
