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產(chǎn)品展示

微粒晶片表面沉積系統(tǒng)

點擊次數(shù):811發(fā)布時間:2009/11/2 0:00:00

微粒晶片表面沉積系統(tǒng)

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:美國

產(chǎn)品型號:(PWDS-2300XP)

簡單介紹:高效率微粒表面沉積系統(tǒng)包括的氣溶膠霧化發(fā)生、靜電分離及沉積技術(shù),用于產(chǎn)生可溯源NIST的PSL球及加工過程顆粒沉積在晶片表面的標(biāo)準(zhǔn)晶片,用于研究不同折射稀疏對晶片檢測系統(tǒng)的影響并標(biāo)定檢測系統(tǒng),也可用于評價晶片干法/濕法清洗系統(tǒng)的性能

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

                            微粒晶片表面沉積系統(tǒng)

   高效率微粒表面沉積系統(tǒng)包括的氣溶膠霧化發(fā)生、靜電分離及沉積技術(shù),用于產(chǎn)生可溯源
NISTPSL球及加工過程顆粒沉積在晶片表面的標(biāo)準(zhǔn)晶片,用于研究不同折射稀疏對晶片檢測系統(tǒng)的影響并標(biāo)定檢測系統(tǒng),也可用于評價晶片干法/濕法清洗系統(tǒng)的性能。

 

儀器特點:

l         通過DMA技術(shù)去處雙顆粒、三顆粒及其它雜質(zhì)顆粒,使之不能沉積在晶片表面

l         DMA測量經(jīng)過溫度及壓力補(bǔ)償、使得產(chǎn)生可溯源NISTPSL球標(biāo)準(zhǔn)晶片

l         符合CE Mark、SEMI S2/S8/S14等亞洲、歐洲及美國規(guī)范要求

l         通過DMA沉積單一粒徑顆粒于晶片表面

l         顆粒沉積粒徑:

標(biāo)準(zhǔn)單 DMA0.08 – 1.0 µm

可選雙DMA0.03 – 3.0 µm

l         4個內(nèi)置超聲波霧化發(fā)生器產(chǎn)生穩(wěn)定、高濃度的氣溶膠

每個晶片表面可沉積8個沉積點

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