產(chǎn)品展示
薄膜測厚儀
點擊次數(shù)：1581發(fā)布時間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：韓國
產(chǎn)品型號：
相關(guān)標簽：
優(yōu)質(zhì)供應
詳細內(nèi)容
| 活動范圍 | 150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離) |
| 測量范圍 | 200å~ 35μm(根據(jù)膜的類型) |
| 光斑尺寸 | 20å 典型值 |
| 測量速度 | 1~2 sec./site |
| 應用領域 | 聚合體: pva, pet, pp, pr ... 電解質(zhì): 半導體: poly-si, gaas, gan, inp, zns... |
| 選擇 | 參考樣品(k-mac or kriss or nist) |
| 探頭類型 | 三目探頭 |
| nosepiece | quadruple revolving mechanism with inward tilt |
| 照明類型 | 12v 35w halogen lamp built-in control device & transformer |
