ST4080-OSP（有機(jī)可焊性保護(hù)膜）專(zhuān)用于測(cè)量PCB/PWB上銅鉑厚度。它屬于使用分光反射法的非破壞性光學(xué)測(cè)量?jī)x，它可提供平均厚度和詳細(xì)的3D平面輪廓資料，使得實(shí)時(shí)檢測(cè)無(wú)需任何的樣品制備。
  由于ST4080-OSP具有測(cè)量很小面積與自動(dòng)聚焦功能，適用于PCB基板表面的實(shí)模式。ST4080-OSP基于科美公司的厚度測(cè)量技術(shù)，而它在半導(dǎo)體，平板顯示與其他電子材料行業(yè)方面的可靠性得到了證實(shí)。

  為什么要選擇 ST4080-OSP?

  ST4080-OSP使用反射測(cè)量法提供PCB/PWB表面OSP涂層厚度的非接觸和非破壞性實(shí)時(shí)測(cè)量。
  ST4080-OSP 無(wú)需樣品制備，可確�？焖俸秃�(jiǎn)便操作。
  ST4080-OSP測(cè)量的光斑尺寸可減小到0.135，這使得它可測(cè)量表面粗糙的銅的OSP涂層厚度. 
  ST4080-OSP 與紫外可見(jiàn)分光計(jì)，受迫離子束方法，時(shí)序電化學(xué)還原分析還有其他的測(cè)量方法相比較，它基于更可靠的測(cè)量技術(shù)。
  ST4080-OSP 可獲取420nm~640nm范圍內(nèi)的多波長(zhǎng)光譜。
  ST4080-OSP可提供各點(diǎn)和它們的平均厚度的詳細(xì)數(shù)據(jù)，這樣可幫助人們更好地控制OSP質(zhì)量。
  ST4080-OSP 通過(guò)3D表面形態(tài)學(xué)將測(cè)量程序*優(yōu)化。