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產(chǎn)品展示

庫倫法鍍層測厚儀COULOSCOPE® CMS

點擊次數(shù)：314發(fā)布時間：2009/11/2 0:00:00

庫倫法鍍層測厚儀COULOSCOPE® CMS

更新日期：1900/1/1 0:00:00

所 在 地：美國

產(chǎn)品型號：

簡單介紹：Couloscope CMS (CMS 庫倫測量系統(tǒng))利用庫倫測量方法測量鍍層厚度。它的特點包括特大LCD屏幕，容易閱讀，簡單易用操作系統(tǒng)及有SPC統(tǒng)計功能；新的V18測量臺可以自動控制泵入及泵出電解液。這部儀器是測量多層金屬鍍層的理想儀器，不論底材是金屬或非金屬。它主要應(yīng)用在當(dāng)非破壞式測量不能或不須使用的時候。

相關(guān)標簽：

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細內(nèi)容

couloscope cms (cms 庫倫測量系統(tǒng))利用庫倫測量方法測量鍍層厚度。它的特點包括特大lcd屏幕，容易閱讀，簡單易用操作系統(tǒng)及有spc統(tǒng)計功能；新的v18測量臺可以自動控制泵入及泵出電解液。這部儀器是測量多層金屬鍍層的理想儀器，不論底材是金屬或非金屬。它主要應(yīng)用在當(dāng)非破壞式測量不能或不須使用的時候。

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cms

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庫倫鍍層厚度測試儀
分步測量： 鍍層厚度和電位差
 
couloscope® cms

couloscope® cms (庫侖測量系統(tǒng))使用庫侖方法測量鍍層厚度。新的設(shè)計中配備了一個大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的功能表指引系統(tǒng)，新的可以通過泵控制自動注液和清空測量槽的v18測量臺，以及spc統(tǒng)計能力。該儀器理想的適用於測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。

couloscope® cms精確地測量範(fàn)圍在0.05 - 40 µm (0.002 - 1.6 mils)之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑膠上。存儲容量允許記錄和保存上千條的測量結(jié)果�？梢酝ㄟ^rs232介面將存儲的資料列印或輸出到pc電腦上。

 
 操作簡單的測量臺：
4種不同類型的測量臺適合於測量各種種類的被測物體。

左上角圖片：測量臺v18有1個新的測量槽設(shè)計。由於在每次測量後有一個泵會自動地排出電解液至儲液箱內(nèi)，也就不再需要手動清空測量槽了，一次注滿測量槽就可以多次測量。

右上角圖片：測量臺v24允許靈活定位小工件。

左下角圖片：測量臺v26主要爲(wèi)簡單和平面形狀的物體而設(shè)計。

右下角圖片：測量臺v27主要爲(wèi)在線材上測量而設(shè)計。

 
 特點
  • 吸引人的設(shè)計，大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
  • 操作簡單，功能表指引的操作提示。
  • 電解區(qū)域直®|從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
  • 大約100個預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用於大多數(shù)的金屬鍍層，包括測量線材。
  • 多種配件

 
 couloscope® cms step

在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同®阞澈p度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。首選的多鍍層組成爲(wèi)不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層之間足夠的電位®t導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度，並且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。

couloscope® cms step可以通過定位於電位-®伅〞矰互袺鶶﹞尷甄躩虼茪隢k地測出鍍層厚度和電位®t。這個圖表能夠外部保存或通過rs232轉(zhuǎn)換到pc電腦中。

couloscope® cms step

*新産品
couloscope® cms step：

分步測量step test (simultaneous thickness and electrochemical potential)是一種已定型很久的測試方法，用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中，對多層鎳的測量變得越來越重要了，例如雙層鎳的測量已成爲(wèi)一種標準的操作。

couloscope® cms step儀器高的電壓解析度可以測量頂層爲(wèi)微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。(若需要，還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳)。

couloscope® cms step 應(yīng)用領(lǐng)域:
  • 同時測量雙層鎳或三層鎳鍍層的厚度和電化學(xué)電位。
  • 幾乎可以測量所有金屬或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層系統(tǒng)。

在工業(yè)和特殊領(lǐng)域內(nèi)的具體應(yīng)用範(fàn)圍：
  • 電鍍工業(yè)中的産品監(jiān)控；由於新穎電極簡便的操作，該儀器完美地適用於電鍍車間繁雜的工作環(huán)境！

  • 成品的入庫檢驗，例如汽車工業(yè)中鉻合金輪轂澆築件(帶雙層鎳）。

 
 顯而易見的優(yōu)點：

  • 快速測試結(jié)果(比較於非�；ㄙM®伅〞瘋q霧測試機)

  • 近100個預(yù)定義的測量程式(從例如鐵上鍍鋅的單鍍層到例如合成材®w鍍鉻，鎳，銅的三鍍層)

  • 測量單元安排獨特。這一正在申請專利的設(shè)計確保了參考電極與被測工件之間始終相等的距離。這對於重復(fù)精度，測量精度是非常重要的

  • 測量單元無需複雜調(diào)整

  • 介面友好，功能表指引

  • 採用®睅?b>din en iso 2177和astm b764-94標準的®w侖測試方法。如此，不僅銅鍍層，多層鎳鍍層以及鉻鍍層的厚度，而且鎳鍍層之間的電化學(xué)電位都可以輕鬆測出。

  • 大顯示幕，清晰的鍵盤

 
 step-view 軟體的特點：

電腦軟體step-view 可以方便地用來保存和計算所測的電點陣圖。當(dāng)然，儀器本身也可以直接進行計算。
在step-view軟體中，所測電點陣圖的輪廓可以通過點擊滑鼠從儀器中讀出。鍍層厚度的測量和電位®t的測量分別産生在二個分開的圖形中�？梢酝ㄟ^在圖形相關(guān)部位設(shè)定多達5個的標記來輕鬆設(shè)定感興趣的數(shù)值。資®i以輸出到excel 試算表，資®洇峊i以保存爲(wèi)常用的圖形®璁?/b>以及設(shè)定多種列印模板。

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