產(chǎn)品展示
OSPrey800（OSP鍍層測(cè)厚儀）
點(diǎn)擊次數(shù)：141發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：USA
產(chǎn)品型號(hào)：OSPrey800
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
OSPrey800（OSP鍍層測(cè)厚儀）
OSPrey800儀器利用光譜分析原理無損檢測(cè)OSP鍍層厚度。無需準(zhǔn)備樣品，可實(shí)時(shí)檢測(cè)實(shí)際產(chǎn)品上的
OSP鍍層厚度。
OSPrey800儀器在檢測(cè)過程中不會(huì)對(duì)PCB/PWB板產(chǎn)生不利影響。通過進(jìn)行PCB/PWB上OSP鍍層厚
度的定量、完整性、可靠性及膜層形態(tài)的細(xì)致分析，進(jìn)而檢驗(yàn)OSP鍍層的應(yīng)用可靠性。
檢測(cè)可在OSP鍍層的生命周期的不同階段進(jìn)行，使用戶可以通過監(jiān)控OSP鍍層形成和儲(chǔ)藏過程中產(chǎn)生
的不良變化對(duì)工藝進(jìn)行必要的調(diào)整。例如，可以在PCB/PWB生命周期的不同階段檢測(cè)OSP鍍層的厚度
以預(yù)測(cè)在后續(xù)的工藝過程中由于OSP鍍層的可焊性變化而對(duì)工藝產(chǎn)生的影響。
產(chǎn)品特色:
－－無損實(shí)時(shí)檢測(cè)
－－不再使用檢驗(yàn)銅箔，無需樣品制備
－－超小檢測(cè)點(diǎn)
－－二維圖象分析功能
－－可在粗糙表面測(cè)量OSP鍍層厚度
－－人性化操作流程設(shè)計(jì)
規(guī)格說明:
－－光源激發(fā) 420nm~665nm復(fù)合波長(zhǎng)光源，通過Ｖ型刻痕濾光片選擇特定波長(zhǎng)光學(xué)。
20倍光學(xué)變焦和成像系統(tǒng)
1/8英吋光纖
－－檢測(cè)器 CCD檢測(cè)器
－－分析 處理由OSP的膜厚反射而形成的反射光譜。
自行編程的編輯器來輸入需預(yù)先設(shè)定的參數(shù)
－－工作環(huán)境 10°C~ 40°C
－－濕度:使用中置98%
－－樣品臺(tái) XY軸固定樣品放置臺(tái)
Z軸自動(dòng)光學(xué)聚焦
－－電源 110-240VAC，50-60Hz，230W
Maximum Fuse Provide: 4A 250V
－－儀器尺寸 操作臺(tái): 25 寬 x 30 長(zhǎng)x 46.5 高 （cm）
主控制器 : 27.5長(zhǎng)x20.7寬x14.5（cm）
－－儀器重量 操作臺(tái): 6.6 kg （14.5 lbs）
主控制器: 5.7 kg （12.5 lbs）
