產(chǎn)品展示
X-Strata980（X熒光鍍層測(cè)厚及痕量元素分析儀）
點(diǎn)擊次數(shù)：141發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：USA
產(chǎn)品型號(hào)：X-Strata980
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
X-Strata980（X熒光鍍層測(cè)厚及痕量元素分析儀）
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
X-Strata980結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測(cè)器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積
的檢測(cè)需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測(cè)器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測(cè)下限。探測(cè)器分辨率極高，
能更容易地識(shí)別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測(cè)結(jié)果可精確到ppm級(jí)，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，
幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對(duì)您的應(yīng)用選擇*合適的分析模型：經(jīng)驗(yàn)系
數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對(duì)電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測(cè)。一旦識(shí)別
出問(wèn)題區(qū)域，即可對(duì)特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測(cè)大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙
門(mén)使樣品更易放入。
應(yīng)用:
－－RoHS/WEEE
－－有害元素痕量分析
－－焊料合金成分分析和鍍層厚度測(cè)量
－－電子產(chǎn)品中金和鈀鍍層的厚度測(cè)量
－－五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測(cè)量
－－貴金屬合金分析和牌號(hào)鑒定
產(chǎn)品特點(diǎn):
－－100瓦X射線管
－－25mm2PIN 探測(cè)器
－－多準(zhǔn)直器配置
－－掃描分析及元素分布成像功能
－－靈活運(yùn)用多種分析模型
－－清晰顯示樣品合格/不合格
－－超大樣品艙
－－同時(shí)分析元素含量和鍍層厚度
技術(shù)參數(shù):
－－元素范圍:S（16） to U（92）
－－可測(cè)鍍層層數(shù):5 層 （4 層+ 底材）,可同時(shí)分析25種元素成份
－－X射線管功率:100W （50kV ａnd 2mA）微焦點(diǎn)鎢靶X射線管
－－探測(cè)器:25mm2 PIN 電制冷固態(tài)探測(cè)器
－－濾波器/準(zhǔn)直器:*多可包含5個(gè)初級(jí)濾波器和4個(gè)準(zhǔn)直器規(guī)格 （0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm Ø）
－－數(shù)字脈沖處理器:4096多道數(shù)據(jù)分析功能;自動(dòng)數(shù)據(jù)處理,包括死時(shí)間修正
－－電腦/顯示器/系統(tǒng)軟件
Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置
15”LCD, 1024 x 768
MicrosoftTM XP SP2
－－攝像系統(tǒng):1/2” CMOS-640x480 VGA resolution
－－電源:85~130V or 215~265 V, 頻率47Hz to 63Hz
－－工作環(huán)境: 10－40℃、相對(duì)濕度小于98%，無(wú)冷凝水
－－XYZ軸行程: 203 x 152 x 216 mm （8 x 6 x 8.5”）
－－樣品尺寸
305 x 390 mm （12 x 15.4”），樣品高度為 50mm （2”）
305 x 352 mm （12 x 13.9”），樣品高度為 203mm （8”）
－－艙室尺寸: （W x D x H）:584 x 508 x 220mm （23 x 20 x 8.7”）
－－外型尺寸
高765mm （30.1”）
寬 700mm （27.5”）, 840mm （5.5”） with one mouse pad extended
深790mm （31.1”）, 990 mm （39”） with keyboard tray extended
－－重量: 135 kg
