企業(yè)檔案
- 會員類型：免費會員
- 工商認證： 【已認證】
- 最后認證時間：
- 法人：
- 注冊號：
- 企業(yè)類型：經(jīng)銷商
- 注冊資金：人民幣萬
聯(lián)系我們
聯(lián)系人：姜小姐
熱門標簽
公司動態(tài)
Microtrac Inc.新一代納米/Zeta電位分析儀問世
點擊次數(shù)：240 發(fā)布時間：2008/12/22
美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上著名的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，前身為Leeds & Northrup 研究所，近半個世紀以來，一直著激光粒度分析的前沿技術(shù)，可靠的產(chǎn)品和強大的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，使得其的激光粒度分析技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于石油，石化，水泥，磨料，冶金，制藥，陶瓷等領(lǐng)域，并成為眾多行業(yè)指定的質(zhì)量檢測和控制的分析儀器。
美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出*新一代Zetatrac微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，Zetatrac采用的“Y”型光纖探針光路設(shè)計，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結(jié)果準確可靠，重現(xiàn)性好。
以研究開發(fā)見長的美國麥奇克有限公司，幾經(jīng)坎坷，在激烈的市場競爭中始終立于不敗之地。尤其是在日本市場，憑借其極高的性價比，各行業(yè)用戶總數(shù)高達2,500多臺，成為日本粉體工業(yè)協(xié)會的指定品牌。自2004年底進入中國市場以來，作為專業(yè)激光粒度分析儀的領(lǐng)航者，采用的光散射/衍射技術(shù)，全自動化的設(shè)計帶來無與倫比的靈敏度和重復性，在中國的石油石化，環(huán)�？刂�，材料科學，國防軍工，航空航天，礦物加工等領(lǐng)域享有很高的聲望。
