SK2018大平臺金相顯微測量分析系統(tǒng)是從SK2008基礎上改進而成的。它包括數(shù)碼金相顯微鏡及高級圖像測量分析軟件.系統(tǒng)集成了傳統(tǒng)目視與現(xiàn)代影像功能，它擁有內置高亮度可持續(xù)調節(jié)的同軸光，400mmx300mm大范圍載物移動平臺，可調范圍為254mmx254mm,采用平場消色差鏡頭可高達400^X－4000^X的電子放大倍率和40 ^X－400 ^X的光學放大倍率, ±300納米測量精度，使成像更加清晰可見.由賽克專業(yè)開發(fā)高級圖像測量分析軟件,能夠快速精確的捕捉各種圖像,具有圖像測量、管理及處理等功能.產品適用于IC芯片、PCB覆銅板、液晶屏導電離子的檢測和工礦、科研,教學等單位研究和觀察等.尤其對于細小顆粒、粉末試樣、大批金相和大面積硅片的檢測,可得到完美的圖像效果. 本產品是經濟普及型亞納米級測量產品,比同類產品具有優(yōu)越的性價比.

性能

 

◆   內置連續(xù)可調光源

◆   4000X電子放大率,高質素成像

◆   配合機臺使用鹵素燈（視光欄和孔徑光欄大小可調）

◆   內置式高清晰saike image card

◆   縱、橫可移動平臺

◆  采用高清晰CCD攝像頭

◆   外設獨特的目鏡

◆   適應明視場、暗視場     

 ◆         獨特的偏光功能

◆      SKD－CL2軟件系統(tǒng)可進行各種圖像測量和處理

◆   支持多種格式,可進行圖像存儲、編輯、打印、發(fā)送、格式化等

 

技術參數(shù)：(型號：SK2018)

            

             

調焦范圍	36mm
視場	0.6－0.01mm
顯示方式	電腦 監(jiān)視器 液晶屏 電視機
工作距離	0.7－17.9mm
電子倍率	400X     1000X      2000X        4000X
光學倍率	40X　 100 X　 200X          400X
照明光源	同軸光
圖像器件	高清晰CCD攝像頭
圖像輸出	Av信號
圖像卡	高清晰 saike image card