產(chǎn)品展示

SpectraThick3000薄膜厚度測量儀

點(diǎn)擊次數(shù)：197發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00

更新日期：1900/1/1 0:00:00

所在地：美國

產(chǎn)品型號(hào)：

簡單介紹：SpectraThick300 薄膜厚度測量儀把UV-Vis光照在測量對(duì)象上，利用從測量對(duì)象中反射出來的光線測量膜的厚度的產(chǎn)品。這種產(chǎn)品主要用于研究開發(fā)或生產(chǎn)導(dǎo)電體薄膜現(xiàn)場，特別在半導(dǎo)體及有關(guān)Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。

相關(guān)標(biāo)簽：

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

SpectraThick3000薄膜厚度測量儀特點(diǎn)

1) 因?yàn)槭抢霉獾姆绞剑允欠墙佑|式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。

2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。

4) 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5) 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。

6) 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品

7)可測量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP專用)

SpectraThick3000薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)

Stage Size	~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement
Measurement Range	100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
Spot size	40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
Measurement Speed	1~2sec/site Typically
Application Areas	Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
Option	Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function	Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement