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產(chǎn)品展示

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀

點擊次數(shù):418發(fā)布時間:2009/11/2 0:00:00

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:韓國

產(chǎn)品型號:

簡單介紹:SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀把UV-Vis光照在測量對象上,利用從測量對象中反射出來的光線測量膜的厚度的產(chǎn)品。 這種產(chǎn)品主要用于研究開發(fā)或生產(chǎn)導電體薄膜現(xiàn)場,特別在半導體及有關(guān)Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。

相關(guān)標簽:光學薄膜測厚儀 

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細內(nèi)容

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀特點

1) 因為是利用光的方式,所以是非接觸式,非破壞式,不會影響實驗樣品。

2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3) 測量迅速正確,且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4) 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5) 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6) 產(chǎn)品款式多樣,而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計產(chǎn)品

7)可測量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)

8)超大型Stage (PDP專用) 

SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m(Depends on Film Type)
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ...
Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4
semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS...
PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP
Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass
Intended for Large size PDP

 Option

Programmable Auto X-Y Stage
Auto Focusing
CCD Camera

Function Pattern Identification by Pattern Maching
Entry-level CD Measurement

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