欧美三级欧美成人高清,麻豆网神马久久人鬼片,男同gay自慰网站,欧美日韩精品一区二区三区激情,在线,男人的天堂av

您的位置：易推廣 > 儀器儀表 > 流量儀表 > 其他電子測量儀器 > 北京燕京電子有限公司 > 產(chǎn)品展示 > KF卡箍 > ST2000薄膜厚度測量儀

產(chǎn)品展示

ST2000薄膜厚度測量儀

點擊次數(shù)：399發(fā)布時間：2009/11/2 0:00:00

ST2000薄膜厚度測量儀

更新日期：1900/1/1 0:00:00

所 在 地：韓國

產(chǎn)品型號：

簡單介紹：ST2000薄膜厚度測量儀把UV-Vis光照在測量對象上，利用從測量對象中反射出來的光線測量膜的厚度的產(chǎn)品。 這種產(chǎn)品主要用于研究開發(fā)或生產(chǎn)導電體薄膜現(xiàn)場，特別在半導體及有關Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。

相關標簽：光學 薄膜 測厚  

優(yōu)質(zhì)供應

詳細內(nèi)容

ST2000薄膜厚度測量儀特點

1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。

2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。

4） 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5） 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。

6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設計產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用） 

ST2000薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ...
Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4
semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS...
PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP
Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass
Intended for Large size PDP
 Option

Programmable Auto X-Y Stage
Auto Focusing
CCD Camera
Function Pattern Identification by Pattern Maching
Entry-level CD Measurement

聯(lián)系我們

聯(lián)系人：劉先生、郭先生

點擊查看聯(lián)系方式

企業(yè)檔案

  • 會員類型：免費會員
  • 工商認證： 【已認證】
  • 最后認證時間：
  • 法人：
  • 注冊號：
  • 企業(yè)類型：經(jīng)銷商
  • 注冊資金：人民幣萬

script>
在線咨詢

提交