產(chǎn)品展示
ST8000光學(xué)薄膜測厚儀
點(diǎn)擊次數(shù)：261發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：美國
產(chǎn)品型號：
相關(guān)標(biāo)簽：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
ST8000光學(xué)薄膜測厚儀是把UV-Vis光照在測量對象上，利用從測量對象中反射出來的光線測量膜的厚度的產(chǎn)品。 這種產(chǎn)品主要用于研究開發(fā)或生產(chǎn)導(dǎo)電體薄膜現(xiàn)場，特別在半導(dǎo)體及有關(guān)Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。
ST8000光學(xué)薄膜測厚儀產(chǎn)品特性
1) 因?yàn)槭抢霉獾姆绞剑允欠墙佑|式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4) 可測量3層以內(nèi)的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6) 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)用于特殊領(lǐng)域(超精密,微小部位-0.2um2 ) a
