北京燕京電子有限公司

產(chǎn)品展示

光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x

點(diǎn)擊次數(shù)：558發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00

更新日期：1900/1/1 0:00:00

所在地：韓國(guó)

產(chǎn)品型號(hào)：ST2000/ST4000/ST5000/ST6000/ST7000

簡(jiǎn)單介紹：本儀器是把UV-Vis光照在測(cè)量對(duì)象上，利用從測(cè)量對(duì)象中反射出來(lái)的光線測(cè)量膜的厚度的產(chǎn)品。這種產(chǎn)品主要用于研究開發(fā)或生產(chǎn)導(dǎo)電體薄膜現(xiàn)場(chǎng)，特別在半導(dǎo)體及有關(guān)Display工作中作為In-Line monitoring 儀器使用。

相關(guān)標(biāo)簽：薄膜厚度測(cè)量?jī)x

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

1) 因?yàn)槭抢霉獾姆绞剑允欠墙佑|式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。

2) 可獲得薄膜的厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3) 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。

4) 可測(cè)量 3層以內(nèi)的多層膜。

5) 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。

6) 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品。

7)可測(cè)量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )

8)Table Top型, 適用于大學(xué),研究室等