納米顆粒表征及應(yīng)用技術(shù)研討會(huì)　2008年終不容錯(cuò)過的納米技術(shù)盛宴

英國馬爾文儀器有限公司與北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)將于12月16日共同舉辦“納米顆粒表征及應(yīng)用技術(shù)研討會(huì)”。屆時(shí)，中國粉體技術(shù)權(quán)威及馬爾文納米技術(shù)專家將在會(huì)上作關(guān)于納米表征與應(yīng)用技術(shù)的精彩演講。 參會(huì)者將有機(jī)會(huì)了解有關(guān)納米粒度測量，ZETA電位測量，納米樣品分散等*新的技術(shù)原理與應(yīng)用。

時(shí)間: 12月16日（星期二）
地點(diǎn): 北京市理化分析測試中心北科大廈報(bào)告廳　北京市海淀區(qū)西三環(huán)北路27號(hào)
會(huì)議日程 
08:30 – 09:00  簽到
09:00 – 09:20  中國納米技術(shù)現(xiàn)狀及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定
09:20 – 10:15  納米測量技術(shù)原理及*新進(jìn)展-1
10:15 – 10:30  茶歇
10:30 – 11:30  納米測量技術(shù)原理及*新進(jìn)展-2
11:30 – 13:00  工作午餐
13:00 – 14:30   納米樣品分散技術(shù)及應(yīng)用 
14:30 －－ 14:45  茶歇
14:45 －－ 16:00  典型樣品測量 
16:00 – 16:30  問題解答 

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