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產(chǎn)品展示

熒光測(cè)厚儀

點(diǎn)擊次數(shù)：3287發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00

熒光測(cè)厚儀

更新日期：1900/1/1 0:00:00

所 在 地：美國(guó)

產(chǎn)品型號(hào)：MicronX

簡(jiǎn)單介紹：MicronX型熒光測(cè)厚儀是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料和電子器件領(lǐng)域的檢測(cè)設(shè)備。

相關(guān)標(biāo)簽：測(cè)厚儀 測(cè)厚儀價(jià)格 MicronX 

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

   MicronX型熒光測(cè)厚儀是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料和電子器件領(lǐng)域的檢測(cè)設(shè)備。 檢測(cè)區(qū)域?yàn)?0m~500um. 通過CCD 可放大圖像達(dá)300倍。通過高精密度樣品臺(tái)可提供元素面分布圖。 可對(duì)多達(dá)7層的涂層或鍍層進(jìn)行逐層厚度測(cè)量。

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