QE65000科研級光纖光譜儀—量子效率高達90％

是我們研發(fā)的產(chǎn)品中*敏感的光譜儀，其量子效率（其定義是光子轉(zhuǎn)變成光電子的效率）可以達到90％。

含有一個對紫外線感應能力超強的日本濱松出品的薄型背照式（Back-thinned）探測器。它的二維像素排列（水平1044像素×垂直64像素）可以響應波長范圍為200～1100nm的光信號。特定的光譜范圍和解析度是由用戶的光柵和入射光狹縫的選擇來決定的。探測器的象素列在數(shù)據(jù)輸出前就累加的，這樣可以使采集數(shù)據(jù)的噪聲*小化。

用所包含的熱電冷卻器，檢測器可以被冷卻到零下20℃，以減少暗噪聲。噪聲和暗信號的減少可以使光譜儀的積分時間達到15分鐘，并因此大大提高低亮度級別測試時的檢測極限。

光譜儀的低噪聲檢測器與16位的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器使得動態(tài)范圍達到25000:1，信噪比大于1000:1。

QE65000科研級光纖光譜儀—更高的系統(tǒng)靈敏度

由于二維檢測器使光譜儀能很好地利用入射光狹縫的高度，QE65000型科研級別光譜儀的靈敏度得到了一定的提高。在我們生產(chǎn)的其它光譜儀中，光進入光具座是通過入射光狹縫的寬度來調(diào)節(jié)的；狹縫的高度是沒有影響的，因為線性檢測器不能有效地收集狹縫的整個高度的光。而使用QE65000型科研級別光譜儀的二維檢測器，我們就可以更好地利用來自高度方向的額外的光信號。

QE65000科研級光纖光譜儀—優(yōu)異的紫外光響應能力

QE65000型科研級別光譜儀的薄型背照式（Back-thinned）探測器對紫外線具有優(yōu)異的響應能力，并且不需要外加涂層來提高其性能。

QE65000科研級光纖光譜儀—滿足低亮度級別應用的條件

QE65000型科研級光譜儀是一個適合在低亮度級應用的極好選擇，包括在熒光、拉曼光譜、DNA測序、天文學和薄膜反射等各個方面。用戶可以根據(jù)需要，將光譜儀的積分時間（類似于照相機的快門速度）設置成7ms～10min內(nèi)的數(shù)值，而不會產(chǎn)生光學失真。