產(chǎn)品展示
X-熒光鍍層測(cè)厚儀
點(diǎn)擊次數(shù)：170發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：美國(guó)
產(chǎn)品型號(hào)：CMI900
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
CMI做為世界級(jí)品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個(gè)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，南華地區(qū)90%以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測(cè)鍍層厚度的行業(yè)工具
X-熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900 / 950金屬鍍層厚度的精確測(cè)量
CMI 900 / 950 系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層
厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析.基于Windows2000
中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的全面自動(dòng)化控制，
技術(shù)參數(shù)：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x,在技術(shù)上一直以來都于全世界的測(cè)厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定*多5層、15 種元素。
B ：精確度于世界，精確到0。025um (相對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)片)
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ；
如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、值、*小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn)，*小可達(dá)0.025 x 0.051毫米
樣品臺(tái)選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為：
一：手動(dòng)樣品臺(tái)
1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
二：自動(dòng)樣品臺(tái)
1 程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。
2 超寬程控樣品臺(tái)：XYZ軸自動(dòng)控制。
CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用，分別為：
1 全程控樣品臺(tái)：XYZ 三軸程序控制樣品臺(tái)，可接納的樣品高度為150mm，XY 軸程控移動(dòng)范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。
2 Z軸程控樣品臺(tái)：XY軸手動(dòng)控制，Z軸自動(dòng)控制，可接納的樣品高度為270mm。
3 全手動(dòng)樣品臺(tái)：XYZ三軸手動(dòng)控制，可接納的樣品高度為356mm。
可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。
CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下：
No. | 主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | |
1 | X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | |
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | |||
標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | |||
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 X射線管功率可編程控制 | |||
裝備有安全防射線光閘
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2 | 濾光片程控交換系統(tǒng) | 根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng) | |
二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測(cè)器窗口
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3 | 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) | *多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制 | |
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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4 | 測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時(shí)，*小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) | |
在12.7mm聚焦距離時(shí)，測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
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5 | X射線探測(cè)系統(tǒng) | 封氣正比計(jì)數(shù)器 | |
裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號(hào)處理電路
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6 | 樣品室 | CMI900 | CMI950 |
| －樣品室結(jié)構(gòu) | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 |
－樣品臺(tái)尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
－XY軸程控移動(dòng)范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm 任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
－Z軸程控移動(dòng)高度 | 43.18mm | XYZ程控時(shí)，152.4mm XY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm | |
－XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 | ||
